關(guān)于廢止《固態(tài)硬盤(pán)性能技術(shù)要求及測(cè)試規(guī)范》等3項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃的公告

根據(jù)中國(guó)電子學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)化工作委員會(huì)評(píng)估結(jié)論，決定廢止《固態(tài)硬盤(pán)性能技術(shù)要求及測(cè)試規(guī)范》等3項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃（見(jiàn)附件），現(xiàn)予公告。

                                                                                                                                                                                                                             中國(guó)電子學(xué)會(huì)

2024年11月25日

附件：3項(xiàng)廢止標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃目錄

1. JH/CIE 446-2023 固態(tài)硬盤(pán)性能技術(shù)要求及測(cè)試規(guī)范

廢止日期：公告即廢止

2.JH/CIE 447-2023 信息技術(shù) 通用服務(wù)器產(chǎn)品質(zhì)量分級(jí)評(píng)估規(guī)范

廢止日期：公告即廢止

3.JH/CIE 450-2023 車控嵌入式操作系統(tǒng)測(cè)試規(guī)范

廢止日期：公告即廢止